AI 應用

半導體

讓 AutoML 與來自不同領域的製程專家協助您活用製程數據,建立 AI 預測模型找出品質問題因子,並進行製程參數優化、開線前參數模擬及製造結果虛擬量測

應用場景

製程優化、產品品質、參數最佳化

現況​

半導體產業是經濟發展的關鍵引擎,廣泛應用於所有電子產品相關領域。

在地緣政治的影響下,除追逐新進製程,挖鑿與競爭對手的護城河。成熟製程的設計與製造成本恐大幅下降。為提前因應成熟製程的紅海,除技術升級與鎖定利基市場外,應評估與檢討全球佈局態勢,思考如何更貼近歐美大廠,特別是高端客戶,提升供應鏈靈活和應對能力,恐怕是未來幾年要審慎佈局的方向。 

挑戰​

在追逐先進製程的路線上,大量的數據蒐集、監控和精準的控制是不可或缺的。這些因素導致企業在生產效率和產品品質上需面對更大的挑戰,也帶來了技術、數據安全和人才培訓等方面的障礙。因此,如何透過 AI 達到良率提升並提升產能,為該產業需要注意的重要課題。

資源預測與有效分配

IC 設計離不開各式電腦輔助與模擬,以確保效能與品質無虞;但由於 IC 電路極為複雜,因此如何有效預測所需運算資源並進行合理分配,加速產品開發速度。

痛點分析

  • 變數複雜:設計數據與參數量龐大,且參數之間關係複雜,難以使用傳統方式推估 
  • 人事成本高昂且人才取得不易:如何提升 IC 設計效率並有效留存決策經驗 

成果效益

  • 有效建模,提升 20% 的模擬產能
  • 快速建模,降低 90% 的分析及建模時間

機況偵測與預警

在製程精進部分,傳統統計製程管制手法已無法滿足極為細小的差異,如何精確監控設備狀態,辨識異常並快速反應,維持生產效率和品質為當務之急

痛點分析

  • 異常樣本不易蒐集:傳統監督式學習不易取得有效辨識效果
  • 無法使用傳統統計方法:傳統統計製程方法無法監控極細微變動,且變動可能一閃即逝,需透過高精密資料擷取以及機器學習方法捕捉異常機況

成果效益

  • 利用模型來監控生產流程,即時發現機台異常狀況,降低生產中斷風險,提高生產效率 30%
  • 透過辨識出關鍵要因,快速定義問題並針對根因進行處理,提升產品品質 22%

新材料與製程研發加速

為拉開與競爭對手差異,先進技術研發除路線選擇外,研發速度為掌握先機的關鍵能力。

如何加速研發速度,克服技術、成本、市場需求變化等諸多挑戰,需使用和過去不同的方法。

痛點分析

  • 製程參數經驗無法有效複製:新製程導入後,機台對應設置需要仰賴外部供應商,且無法大量複製決策
  • 製程參數設計與控制:如何有效提升良率,減少試產所需時間與資源

成果效益

  • 模擬參數組合的分析有效地節省了 8% 的時間成本
  • 透過數據分析預測參數結果為現場人員提供方向性指引,提高生產效率 10%